Wir erweitern die Grenzen der Mikroelektronik. Wir bieten Leiterplattenlösungen mit extrem hoher Schichtenanzahl und feinem Raster für IC-Tests, Prüfkarten und Anwendungen auf Substratebene.
Technisches Angebot anfordernTechnische Spitzenleistungen für die komplexesten Siliziumarchitekturen der Welt.
Spezialisiert auf die Herstellung dicker Leiterplatten mit hoher Lagenanzahl (bis zu 8,0 mm Dicke) für komplexe Load Boards und Prüfkarten.
Einsatz modernster Kupfermünztechnologie und Laminate mit hoher Wärmeleitfähigkeit für Hochleistungs-Einbrennprüfumgebungen.
Durch den Einsatz hochwertiger LDI-Systeme und spezieller Ausrichtungsverfahren wird eine perfekte Passgenauigkeit über Dutzende von Signalschichten hinweg gewährleistet.
✓ Support for ENEPIG & Hard Gold
Präzisionsfertigungsstandards, die für Null-Toleranz-Prüfungen und Substratanwendungen optimiert sind.
Spezialfertigung von Lastplatinen und DUT-Platinen (Device Under Test) mit extrem ebener Oberflächenbeschaffenheit und BGA-Pads mit feinem Rastermaß.
Lieferung der Kernkomponenten für Tests auf Wafer-Ebene mit hochdichten vertikalen Verbindungen und hervorragender mechanischer Stabilität.
Unterstützung der Lieferkette von Fabless-Designhäusern bis hin zu globalen Testzentren.
„Topfast ist einer der wenigen Anbieter, der Leiterplatten mit mehr als 40 Schichten liefern kann, die die für unsere GPU-Tests erforderliche Passgenauigkeit aufweisen.“
„Die Qualität der ENEPIG-Oberfläche und die Ebenheit der Kontaktflächen sind ideal für die Montage unserer BGA-Sockel mit hoher Pin-Anzahl.“
„Ihre technische Beratung bei der Entwicklung unserer Hochleistungs-Einbrennplatine hat uns vor einem schwerwiegenden thermischen Ausfall bewahrt.“
„Unübertroffene Lieferzeiten für mehrschichtige Prototypen. Sie wissen, wie dringend die Freigabezyklen in der Halbleiterindustrie sind.“
„Ihre Kompetenz bei der Durchführung von Back-Drilling mit hohem Seitenverhältnis ist für unsere Anforderungen an die Signalintegrität bei hohen Geschwindigkeiten von entscheidender Bedeutung.“
Extreme Fertigungsparameter, die speziell auf die Prüfung und Zuverlässigkeit von integrierten Schaltkreisen zugeschnitten sind.
| Parameter | Hochleistungsfähigkeit | Option für höchste Präzision |
|---|---|---|
| Maximale Anzahl von Ebenen | 32–40 Schichten | Bis zu 64 Ebenen |
| Min. Linienbreite / Abstand | 2,5 Meilen / 2,5 Meilen | 1,8 Meilen / 1,8 Meilen (SLP) |
| Bohrungs-Seitenverhältnis | 12:1 | 20:1 (extrem dicke Platten) |
| Planarität der Oberfläche | < 5µm Tolerance | < 2µm (Laser Leveling) |
| Materialgruppen | FR4 mit hohem Glasübergangstemperaturbereich, Megtron 6/7 | Tachyon 100G, Isola Terra |
| Oberfläche | ENIG / Hartgold | ENEPIG / Selektives Gold |
Ein mehrstufiger, hochauflösender Prozess, der eine fehlerfreie Schnittstellenhardware gewährleistet.
Gründliche Simulation der Signal- und Stromversorgungsintegrität, um sicherzustellen, dass das Design hochfrequente IC-Lasten bewältigen kann.
Laserbohren und -abbildung im Submikronbereich zur Herstellung ultrafeiner Verbindungen für Sondenkartensubstrate.
Spezielle Verkupferungsverfahren zur Gewährleistung einer gleichmäßigen Impedanz bei Durchkontaktierungen mit hohem Seitenverhältnis.
Automatisierte 3D-AOI und 100-prozentige Mikroschnittanalyse zur Überprüfung der internen Passgenauigkeit und der thermischen Stabilität.
Unsere Leiterplatten bilden die Grundlage für die Prüfung und Validierung von Computerhardware der nächsten Generation.
Einblicke in die Fertigung von Leiterplatten mit hoher Schichtenanzahl und in Präzisionsprüfgeräte.