Repousser les limites de la microélectronique. Nous proposons des solutions de circuits imprimés à très grand nombre de couches et à pas fin pour les tests de circuits intégrés, les cartes de sondes et les applications au niveau du substrat.
Demander un devis techniqueL'excellence technique au service des architectures silicium les plus complexes au monde.
Spécialisé dans la fabrication de cartes épaisses à grand nombre de couches (jusqu'à 8,0 mm d'épaisseur) destinées aux cartes de charge complexes et aux cartes de sondes.
Maîtrise des technologies de pointe en matière de pièces en cuivre et de stratifiés à haute conductivité thermique destinés aux environnements d'essais de rodage à haute puissance.
En utilisant des systèmes LDI haut de gamme et des techniques d'alignement spécialisées pour garantir un repérage parfait entre des dizaines de couches de signaux.
✓ Support for ENEPIG & Hard Gold
Normes de fabrication de précision optimisées pour les essais à tolérance zéro et les applications sur substrat.
Fabrication spécialisée de cartes de charge et de cartes DUT (Device Under Test) présentant des finitions de surface extrêmement planes et des pastilles BGA à pas fin.
Nous fournissons le matériel essentiel pour les tests au niveau de la plaquette, doté d'interconnexions verticales à haute densité et d'une stabilité mécanique supérieure.
Accompagner l'ensemble de la chaîne d'approvisionnement, des sociétés de conception sans usine aux centres de test internationaux.
« Topfast est l'un des rares fournisseurs capables de fournir des cartes de chargement de plus de 40 couches avec la précision d'alignement requise par nos tests de GPU. »
« La qualité de leur finition ENEPIG et la planéité de leurs pastilles sont idéales pour le montage de nos connecteurs BGA à grand nombre de broches. »
« Leurs conseils techniques lors de la conception de notre carte de rodage à haute puissance nous ont évité une défaillance thermique majeure. »
« Des délais d'exécution imbattables pour les prototypes multicouches. Ils comprennent l'urgence des cycles de lancement dans le secteur des semi-conducteurs. »
« Leur capacité à réaliser des perçages arrière à fort rapport d'aspect est essentielle pour répondre à nos exigences en matière d'intégrité du signal à haute vitesse. »
Paramètres de fabrication extrêmes, strictement adaptés aux tests et à la fiabilité des circuits intégrés.
| Paramètres | Performances de haut niveau | Option ultra-précision |
|---|---|---|
| Nombre maximal de couches | 32 à 40 couches | Jusqu'à 64 calques |
| Largeur minimale des lignes / Espacement | 2,5 km / 2,5 km | 1,8 km / 1,8 km (SLP) |
| Rapport d'aspect du forage | 12:1 | 20:1 (panneaux ultra-épais) |
| Planéité de la surface | < 5µm Tolerance | < 2µm (Laser Leveling) |
| Familles de matériaux | FR4 à haute température de transition vitreuse, Megtron 6/7 | Tachyon 100G, Isola Terra |
| Finition de la surface | ENIG / Or dur | ENEPIG / Or sélectif |
Un processus en plusieurs étapes et à haute résolution garantissant un matériel d'interface sans défaut.
Simulation rigoureuse de l'intégrité du signal et de l'alimentation afin de garantir que la conception est capable de gérer les charges des circuits intégrés à haute fréquence.
Perçage et imagerie laser submicroniques pour la création d'interconnexions ultrafines destinées aux substrats de cartes de sondes.
Procédés de cuivrage spécialisés visant à garantir une impédance homogène sur les vias à fort rapport d'aspect.
Contrôle optique automatique (AOI) en 3D et analyse à 100 % des micro-coupes pour vérifier l'alignement interne et la stabilité thermique.
Nos circuits imprimés sont au cœur des processus de test et de validation du matériel informatique de nouvelle génération.
Aperçu de la fabrication de circuits imprimés à grand nombre de couches et des équipements de contrôle de précision.