¿Cómo probar un inductor SMD?

por Topfast | viernes 23 mayo 2025

Índice

Guía completa para la comprobación de inductores SMD

I. Principios e importancia de las pruebas

Fundamentos de Inductor Pruebas

Based on the AC impedance method: L=XL/(2πf), where XL is inductive reactance and f is the test frequency
Quality factor Q reflects energy storage efficiency: Q=2πfL/R

Análisis de fuentes de error

Efectos parásitos (capacitancia típica distribuida 0,1- 0,5pF)
Contact resistance (should be <50mΩ)
Interferencias ambientales (se recomienda una sala blindada para las pruebas de alta frecuencia)

II.Guía de selección de instrumentos

Tabla comparativa de instrumentos principales

Categoría de instrumentos	Rango de medición	Precisión básica	Gama de frecuencias	Aplicaciones clave	Modelos estándar del sector
Medidor LCR de precisión	1nH – 100H	±0.1% basic	20 Hz – 300 kHz	Filtros de alimentación, convertidores CC-CC	Keysight E4980A, Hioki IM3536
Medidor RF LCR	0,1nH – 1kH	±0.05%	1kHz – 30MHz	Redes de adaptación de RF, circuitos de HF	GW Instek LCR-800G, Wayne Kerr 6500B
Analizador vectorial de redes	0,01nH – 10H	±0.02dB magnitude	100kHz – 20GHz	Componentes de microondas, Sistemas de antenas	R&S ZNB20, Keysight PNA

2.Árbol de decisiones de selección

III.Procedimiento normalizado de examen

Fase de preparación

Tratamiento de la superficie de contacto:
Limpieza ultrasónica con isopropanol (3 minutos)
Limpieza por plasma para oxidación severa (50W, 2 minutos)
Control medioambiental:
Temperature 23±1℃ (30 min thermal stabilization)
Humedad <45% HR

Pasos detallados de la operación

Ejemplo para el inductor del paquete 0402:

Seleccione el dispositivo de prueba triaxial (por ejemplo, Cascade Microtech ACP40)
Establezca las condiciones de la prueba:
freq = [100kHz, 1MHz, 10MHz] bias = [0mA, 10mA]
Realizar la compensación de la resistencia de los contactos (método de 4 hilos)
Normas de adquisición de datos

Sampling: ≥16 averages
Criterios de estabilidad: <0,5% de variación en 3 lecturas consecutivas

IV.Técnicas de ensayo avanzadas

Caracterización de la temperatura

Setup: Thermal chamber (-55℃~+150℃)
Parámetros clave:
Temperature coefficient TC=ΔL/(L0×ΔT)
Typical value: ±30ppm/℃ (ferrite materials)

Caracterización del sesgo de CC

Configuración: Fuente de corriente programable (0- 10A)
Análisis de curvas:
Corriente de saturación Isat (corriente al 10% de caída L)
Degradación de la permeabilidad

Pruebas de parámetros de alta frecuencia

Medición de parámetros S (1MHz-20GHz)
Métricas clave:
Frecuencia autorresonante (SRF)
Curva de frecuencia del factor Q

V.Guía de resolución de problemas

Tabla de diagnóstico de anomalías de medición

Síntoma	Posibles causas	Soluciones recomendadas	Notas técnicas
Deriva de lectura	• Poor contact (Rcontact >50mΩ) • Loose fixture • Temperature fluctuation	• Use gold-plated spring probes • Apply contact cleaner (e.g., DeoxIT D5) • Stabilize test environment (±1°C)	Contact resistance should be <20mΩ for nH-range measurements
Valor Q bajo	• Core material loss (tanδ>0.1) • Frequency near SRF • Excessive DC bias	• Test at manufacturer-specified freq • Reduce DC bias to <10% Isat • Verify core material specs	Para aplicaciones RF: Q<30@100MHz indica un posible problema
Valor L negativo	• Testing beyond SRF • Fixture capacitance (>1pF) • Ground loop issues	• Test at ≤50% of SRF • Use low-C fixtures (e.g., triaxial) • Implement ground isolation	Maintain SRF ≥3× operating frequency for reliable measureme

Parámetros de aplicación típicos

Circuitos RF móviles:
Frecuencia de prueba: 2,4/5,8GHz
Tolerance: ±2%
Potencia del servidor:
DC bias: 20A
Thermal requirement: ΔL<5%@105℃

VI.Plantilla de informe de ensayo

Contenidos esenciales

Registros ambientales (temperatura/humedad/presión)
ID del certificado de calibración del instrumento
Datos brutos con marcas de tiempo

Ejemplo de presentación de datos

Nº de lote	Inductancia @1MHz (nH)	Factor de calidad (Q)	Frecuencia autorresonante (GHz)	DC Resistance (mΩ)
A001	56.2 ±0.3	42	3.5	18.7

This guide complies with IEC 62391-1 standards. For automotive applications, additional AEC-Q200 85℃/85%RH environmental testing is required. Always refer to the manufacturer’s specifications (e.g., Murata Measurement Manual) for device-specific requirements.